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변위 센서에는 레이저식 변위 센서 외에도 측장 센서와 와전류식 변위 센서도 존재합니다. 측장 센서는 투광기와 수광기로 구성된 물체의 폭이나 위치를 측정하는 센서입니다. 수광량의 변화를 파악하는 광량 변화 방식과, 수광 소자에 CCD를 사용한 CCD 방식이 있습니다. 1. 광량 변화 방식 투광기에서 수광기로 평행한 빛이 투광되고, 수광기의 렌즈를 이용해 평행광을 수광 소자로 집광합니다. 평행광 안에 차광 물체가 있으면 빛이 차단되고 수광량이 변합니다. 이러한 변화를 통해 광량을 차광 물체의 크기로 출력할 수 있습니다. 2. CCD 방식 투광기에서 평행한 빛이 수광기로 투광되고, 수광기의 리니어 CCD 이미지 센서에서 수광됩니다. 평행광 안에 차광 물체가 있으면 빛이 차단되고, CCD 상에 차광 물체의 크기..

FA_ Factory Automation 2020. 9. 18. 16:23

지금까지 말씀드린 센서는 주로 물체를 검출하는 목적이 강했습니다. 하지만 변위 센서는 물체가 일정 위치에서 다른 위치로 이동한 경우, 그 위치의 변위(變位) 량을 검출하는 센서입니다. 변위량을 검출하면 물체의 높이, 두께 등을 측정할 수 있습니다. 레이저 변위 센서 레이저 변위 센서의 측정 원리는 삼각 측량을 응용한 방식입니다. 투광 소자와 리니어 이미지 센서를 조합해서 변위량을 검출합니다. 레이저 변위 센서의 투광 소자에는 반도체 레이저가 이용되며, 레이저 빛은 투광 렌즈를 통해 집광되고 대상물에 투사됩니다. 대상물에서 반사된 광선 일부는 수광 렌즈를 통해 리니어 이미지 센서상에 광 스폿을 만들고, 대상물이 이동하면 리니어 이미지 센서 상의 광 스폿도 이동하므로, 그 위치 변화를 검출하면 대상물의 변위..

FA_ Factory Automation 2020. 9. 16. 22:02